粉末衍射全图拟合分析固体材料织构、微结构
[align=center]粉末衍射全图拟合分析固体材料织构、微结构[/align][align=center]吕光烈 浙江大学[/align]
本报告简介用有物理意义的模型替代经典Rietveld分析法中无物理含义的数学模型获取微结构、微观信息。拓展Rietveld法在各向异性宽化和织构严重的薄膜材料研究中的用途。
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